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Caméra infrarouge pour l'industrie métallurgique

Caméra infrarouge pour l'industrie métallurgique

05 mai 2017
Une plage spécifique de longueur d'onde réduit les erreurs de mesure

La nouvelle caméra infrarouge optris PI 05M couvre une plage de mesure de 900 à 2000°C. Elle possède une résolution de 764 x 480 pixels, mesure sur une plage de longueur d’onde de 500 à 540 nm et complète donc l’optris PI 1M (de 0,85 à 1,1 µm). Grâce à la plage spectrale spécifique, elle minimise les erreurs de mesure lors d’émissivités inconnues ou changeantes. « Avec la PI 05M, nous avons développé une autre caméra infrarouge compacte, destinée à l’industrie métallurgique du monde entier, qui est parfaitement adaptée aux mesures de température spécifiques des métaux en fusion », explique Dr.-Ing. Ulrich Kienitz, directeur général d’Optris GmbH.

Mesures de températures élevées avec des fréquences d’image jusqu’à 1 kHz

Avec l’optris PI 05M, on peut mesurer des surfaces jusqu’à 2000°C, et ce en continu à partir de 900°C. À la fréquence d’image de 1 kHz, on peut effectuer des mesures avec une résolution optique de 72 x 56 pixels, tout en positionnant librement cette zone de plus de 4000 pixels. De plus, il existe également une sortie analogique en temps réel avec une zone de 8 x 8 pixels, également à positionnement libre. Ces possibilités permettent une adaptation parfaite à l’application choisie.

Longueur d’onde de mesure spécifique, idéale pour les processus à température élevée et de traitement au laser

La caméra mesure les rayonnements infrarouges sur une plage spectrale comprise entre 500 et 540 nm, et elle est donc parfaitement adaptée à tous les processus de traitement au laser, puisque les rayonnements sont impeccablement bloqués au-delà de 540 nm. D’usage courant en métallurgie, le laser à diodes sur la plage de 900-1030 nm ou le laser NdYAG à 1064 nm n’ont donc pas d’influence négative sur la mesure. La caméra peut ici faire un travail impeccable sans filtres supplémentaires. Ces mesures à ondes courtes des surfaces métalliques possède l’avantage essentiel de minimiser fortement les erreurs de mesure lors d’émissivités inconnues ou changeantes.

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